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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorRodríguez Gómez, Arturo-
dc.creatorBarrera Mendivelso, Edwin Sebastián-
dc.date.accessioned2026-01-08T21:53:39Z-
dc.date.available2026-01-08T21:53:39Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.urihttps://ru.fisica.unam.mx/handle/123456789/166-
dc.format.extent125 páginas-
dc.languagespa-
dc.rightsLa titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a Barrera Mendivelso, Edwin Sebastián. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia no disponible, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio en bidi@dgb.unam.mx-
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierás-
dc.titleEstudio de las propiedades ópticas, estructurales y microestructurales de películas delgadas de SINx crecidas a temperatura ambiente mediante pulverización catódica asistida por radiofrecuencia-
dc.typeTesis de maestría-
dcterms.accessRightsAcceso abierto-
dcterms.bibliographicCitationBarrera Mendivelso, E. S. (2023). Estudio de las propiedades ópticas, estructurales y microestructurales de películas delgadas de SINx crecidas a temperatura ambiente mediante pulverización catódica asistida por radiofrecuencia. [Universidad Nacional Autónoma de México]. https://tesiunamdocumentos.dgb.unam.mx/ptd2023/marzo/0836014/Index.html-
dcterms.provenanceUniversidad Nacional Autónoma de México. Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información-
dc.publisher.locationMX-
dc.degree.departmentInstituto de Física-
dc.degree.namePosgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales-
dc.degree.levelMaestría-
dc.identifier.urlhttps://tesiunamdocumentos.dgb.unam.mx/ptd2023/marzo/0836014/Index.html-
dc.audienceAlumnos-
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México-
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