Título

Estudio de las propiedades ópticas, estructurales y microestructurales de películas delgadas de SINx crecidas a temperatura ambiente mediante pulverización catódica asistida por radiofrecuencia

Autor(es)

Barrera Mendivelso, Edwin Sebastián

Asesor(es)

Rodríguez Gómez, Arturo

Área del conocimiento
Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierás
Fecha de publicación
2023
URI
https://ru.fisica.unam.mx/handle/123456789/166
URL del rcurso digital
https://tesiunamdocumentos.dgb.unam.mx/ptd2023/marzo/0836014/Index.html
Institución que otroga el grado académico
Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad que otroga el grado académico
Instituto de Física
Nombre del grado académico
Posgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales
Nivel académico del grado
Maestría
Licencia Creative Commons
La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a Barrera Mendivelso, Edwin Sebastián. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia no disponible, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio en bidi@dgb.unam.mx
Tipo de recurso
Tesis de maestría
Idioma
spa
Extensión
125 páginas
Forma de citar
Barrera Mendivelso, E. S. (2023). Estudio de las propiedades ópticas, estructurales y microestructurales de películas delgadas de SINx crecidas a temperatura ambiente mediante pulverización catódica asistida por radiofrecuencia. [Universidad Nacional Autónoma de México]. https://tesiunamdocumentos.dgb.unam.mx/ptd2023/marzo/0836014/Index.html
Entidad del repositorio
Universidad Nacional Autónoma de México. Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información
Aparece en las colecciones: Maestría


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